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宇宙射线对计算机讯号传递的错误率有多大影响?

曾经似乎看过一篇paper对宇宙射线和bug率的研究,请问伽马射线 贝塔射线对处理器或内存及bug率有多大影响?

【呆涛的回答(293票)】:

嗯… 没人邀… 凑一发热闹。

有谬误欢迎指正, 非核工程专业.

非常大。

电路是靠着电容上积累的电荷确定0或者1的

电路是靠着电容上积累的电荷确定0或者1的

电路是靠着电容上积累的电荷确定0或者1的

任何形式的辐射, 都会伤害无保护的ASIC电路。 方式多种多样, 最终目的无非一个: 以电离, 撞击等方式, 导致Soft Error (软错误, 也即可以纠正的, 不影响硬件本身的错误), 其中 single event effect(SEE, 单事件错误)是这里面主要的参量 。严重的, 甚至会导致硬件本身损坏(Hard Error ), 也即不可修复的错误. 这一点放到后面讲.

也就是说, 我往内存里存了个数, 二进制 0000 1111; 结果粒子一打过来,哟呵~ 变成 0001 0111了。

如果是数学运算,… 加减法做不对会导致计算轨道错误啊之类的; 如果是控制位… 那你最好保证反转的那两个比特没有控制什么飞船弹射之类的参数。 不然本来输入0不要弹射, 一反转变成1赶紧弹射。玩儿脱了…

比如说切尔诺贝利事件之后, 苏联令人发指的召集志愿者去清理辐射, 原因是 机器人进去就不听使唤了. 更严重的是, 这些机器人拿出来以后, 也不能使用了.

------------偏题开始-----------

那么怎么知道我这个电路会不会这样呢? 标准方法叫做 SEE testing, 单次事件测试。

这个测试简单粗暴: 用一束已知能量的粒子去轰击测试芯片, 同时进行外部操作, 看最终结果会不会翻转。这一束粒子可以是任何粒子, 包括alpha射线, beta射线, 中字束, 混合各种各样的粒子等等. 粒子束的强度统一以入射粒子的能量, linear energy transfer, LET来记。具体到数量级上的话, 如果是目前普通的家用计算机,大概电离辐射量 在 0.x keV cm2 /mg 就挂了。 (挂了=出现了软件诸如 ECC 无法修复的错误)

*对于伽马射线, LET的计算方式不太一样, 因为这货是光子; 计算的时候一般是算由伽马射线引发的电子束强度.

太空的标准参考LET是 60-120 MeV cm2 /mg

垮了噻… 差了几个数量级啊!

原因是家里面的电脑由于地球母亲磁场和大气层的保护, 基本不会受到轰击。 设计的时候, 设计师们都表示呵呵呵呵谁要管你。

太空工程师表示瓦日你哥… 我们怎么办…

说一下LET是如何用来测量的: 一般来说, 用一束粒子轰击这个芯片, 如果这个轰击有效 (改变了某些元器件电容上的电荷), 那么这个芯片上会向外射出粒子.

LET, 顾名思义, 线性 能量 转移, 就指的是在这个有效轰击里, 有多少能量被转移出来了.

LET_thresh, 是对于一个器件来说, 不断地给它施加高能粒子束, 高到某一个能级的时候, 飞出来的粒子能量不再提升了.

那么一般来说, 家用机LET_thresh非常低, 表现形式就是稍稍拿粒子轰击一下, 就会飞出来一堆电子; 但是如果我逐步加大这个粒子束的强度, 出来的电子不会变多!

什么意思呢? 就是说: 家用机无论你怎么轰击, 就只能出来这么多电子了. 再多的电子在原子内层, 你轰不出来.

为什么这是一个坏事呢? 半导体里面可用的电子密度就那么点点, 结果一点点粒子束就全把它轰出来了剩下的原子核和内层电子等着结婚咩...

所以说, 环境里面的LET越高, 说明这个环境有能力轰出更多的电子; 器件的LET_thresh越高, 说明这个器件能承受被轰出更多的电子, 也即在高辐射下更加稳定.

在CMOS出生的同时, 太空/核 工程师们就找到了一种能让标准CMOS 承受高辐射的方法:

把CMOS设计成这样:

这叫做 enclosed layout transistor。 很恶心吧! 这玩意儿的 长宽比不再可以简单的算出来了, 而是要用一套复杂的公式计算。

这样可以把微米级别的电子芯片做到几十MeV cm2/ mg。看起来不错哦~

(该技术依然广泛应用于目前的航天/高能物理场所)。

但是! 地上的工程师们呵呵一笑: 我们的 sub-micron technology要不要? 要不要? 不要的话我们就继续奔向纳米级别了, 你们微米级别慢慢玩~~

太空工程师一计算, 0.25um 的 CMOS 只能承受 大概 15MeV cm2 / mg… 表示不开心。

然后, 在CERN 制作 LHC的时候, 又继续发扬光大, 缩小器件的同时,加入了harden mode(也即在上面那个ELT的基础上在外圈再加入一圈凶残的guardring, 这样可以抵御相对强烈的粒子束轰击)

然后就做到了89MeV cm2 / mg, 反正CERN 表示我们的LHC够用了。

记得太空里是60-120 MeV cm2 /mg吧… 太空工程师欲哭无泪… 你们做这个才刚刚达标啊!

(原话: 那没办法啦… 硬件差不多到头了…剩下的只能靠软件了…)

改为: 电路方法克服这些错误 基本到头了, 剩下的靠屏蔽+架构来解决.

克服Soft Error 有两个无坚不摧的法宝: 把电路做大或者频率减低. 但是这两个都会拖慢计算机的效率.

架构上的方式, 基本可以总结为: 加冗余, 交织设计, 和家用机里也会有的ECC(Error Correct Code). 当然这里的ECC会不同. (感谢太初有为 的指正! )

加冗余就是把本来一个电路能完成的份额用三个或者更多个(奇数个)电路做, 做出来之后取多数答案当做正确答案. 假设本来某个粒子有50%的可能会翻转一个比特, 三份冗余之后, 就只有50% * 50%= 25% 的概率了. 另外, 据太初有为 说以及查证, 标准的三份冗余会使用不同的时钟等, 这样更是降低了一个粒子干扰一片电路的可能性.

交织设计在太初有为 的答案里有详细的介绍.不再赘述.

引用:

F.Sturesson , TEC-QEC, “Single Event Effect (SEE) Testing”, EPFLSpace Center 9 th Conference., June 2009.[Presentation Slides]

Wikipedia, “Linear Energy Transfer (LET)”., 2012, obtained :Linear energy transfer.

F. Faccio, K. Kloukinas, A. Marchioro, T. Calin, J.Cosculluela, M. Nicolaidis and R. Velazco, CERN and TIMA/INPG Laboratory, “SingleEvent Effects in Static and Dynamic Registers in a 0.25pm CMOS Technology”.,IEEE TRANSACTIONS ON NUCI.EAR SCIENCE, VOL 46, NO 6, DECEMBER 1999

G. Anelli, M. Campbell, M. Delmastro, F. Faccio, S. Florist,A. Giraldo, E. Heijne, P. Jarron, K. Kloukinas, A. Marchioro, P. Moreira and W.Snoeys, CERN and University of Padova INVN, “Radiation Tolerant VLSI Circuits in Standard Deep Submicron CMOSTechnologies for the LHC Experiments: Practical Design Aspects”., IEEE TRANSACTIONSON NUCLEAR SCIENCE, VOL. 46, NO 6, DECEMBER 1999

【太初有为的回答(130票)】:

所谓的宇宙射线,也叫空间辐照,主要对CMOS体硅工艺的器件会有比较大的影响。很不幸地,我们大部分的计算机芯片都属于这个范畴。空间辐照主要考虑有这样几个影响:总剂量效应和单粒子效应。总剂量效应是一个类似电子迁移一样的累积过程,比如会造成一个反相器的翻转电压降低,最后不能工作。这个效应在地球上基本不必考虑,一是因为到达地球大气层的高能粒子数量较少,第二大部分电子器件的寿命没有设计的过长。但是在空间就不一定了,在空间环境里长期的粒子能量积累,最终会造成器件的损伤。总剂量效应的度量单位是拉德(材料),一般按照nasa的要求,近地轨道要求在器件生命周期内能抗200k拉德(硅)的辐照量,而深空环境里面,一般都是要求抗1M拉德(硅)以上的总辐照剂量。那么在地球上,其实不必特别考虑总剂量的影响。其次是单粒子效应。单粒子效应就是指一个高能粒子打穿CMOS的某些敏感区域,造成器件的失效。这种失效有硬失效有软失效。硬失效就是器件损伤了。一般这种硬失效表现为闩锁。闩锁的现象就是器件电流突然增大,最终被烧毁。闩锁就是CMOS中衬底和阱之间的pnpn结被导通,最终形成一个正反馈回路。闩锁在地面也会发生,但不一定是高能粒子造成的,也有可能是相邻两个cell靠的比较近产生互感。这个一般芯片设计商在设计的时候都会考虑这个效应,但是不会细致到考虑高能粒子击穿器件那个地步,所以闩锁在地面会发生,但几率不大,即使发生了也不一定会烧毁器件(闩锁在某些条件下是可以退出的),属于小概率事件。然后,单粒子效应还会造成软失效,就是所谓单粒子翻转或单粒子脉冲。单粒子脉冲的发生也是需要高能粒子打在cmos器件上,然后形成一个毛刺,这个毛刺如果运气好,可以被下一级的DFF吸收掉,运气不好,正打在DFF的建立保持时间窗内,寄存器就翻转了。最可怕的是打在时钟树的根节点上,那就会造成大面积的寄存器错误翻转。即使被打中,这个会不会造成bug也是个概率问题,假设打中了某个通用寄存器,但是这个寄存器可能不会被使用,或下一拍就被刷新了,那就和没打中一样。除了单粒子脉冲,还有单粒子翻转,这个发生的粒子能量阈值条件是最低的,因此是软失效中最常见的现象。这种软失效不一定会由宇宙射线造成,在地球上发生的几率也很大。记得很久以前,某次太阳黑子爆发,某厂家的服务器的CPU因为没有做软失效加固,造成大面积失效,丢失大量市场份额。在这方面现在做的最好的是SUN,他家的服务器以稳定著称,但是当我知道他们的CPU做的加固手段之全面,也还是被折服了。一般来讲所有的软失效的发生是个概率事件,发生了会不会造成bug也是个概率事件,造成了bug你会不会观察到,又是个概率事件,观察到了对主功能会不会造成影响还是个概率事件。针对软失效,芯片厂家会在硬件上进行加固,所谓的加固,一般来说就是增加校验,你看很多服务器的内存都是带ECC的,这种校验一般可以纠正一位错误,检查到两位错误。还有一个就是在内存上进行交织设计,就是让一个word的bit尽量分散在不同区域,不要一个粒子打中后一下错一片。所有不重要的寄存器做parity,重要的做ecc,反正就是能想到的全给你加上。抗单粒子软失效还有一个手段就是换材料和工艺,比如在硅上再生长一层,被称为外延增长技术的硅片,或者干脆换成绝缘体上硅材料,这个是IBM研发的,AMD曾经有几条产线,以前所有的powerpc都是基于这个材料工艺的。这个工艺的初衷是降功耗和面积,后来还发现他有个抗单粒子效应的自带属性,后来就被美国军方关注了,再后来因为这个工艺成本还是比较大,逐渐就被商业弃用了。所以总体上来讲,宇宙射线对bug还是有一定的影响的,但取决于你的可靠性要求。在某一个阈值上任何增加可靠性的设计都是昂贵的,软失效设计是一门系统工程,如果只是想简单防一下,其实采用高等级的服务器,多加校验方式,还是提升比较明显的。

【沈忱的回答(44票)】:

才看到知乎上有人讨论这个话题。之前有很多人介绍过单粒子效应的基本概念了,不再重复。在这里澄清几点:

1. Cisco 公告的摘要说,软错误问题的可能原因是单粒子效应(single event effect),并没有提到宇宙射线。我没有cisco账号,没看到报告的全文,但猜测在全文里也没有提宇宙射线。对于地面应用,引起单粒子效应的辐射源,更有可能是芯片封装材料里的放射性同位素在alpha 衰变中放出的alpha粒子,而不是宇宙射线。在没有充分证据的情况下怪罪老天,会遭天遣的。

2. 地面设备因为单粒子效应出现软错误,并不是什么新鲜事。2001年底,Sun 公司的 UltraSparc 高端服务器出现无规律的死机,就是缓存芯片里的软错误造成的。等到几个月后 Sun 公司找到原因并更开始换出问题的缓存时,这个事件已经对 Sun 的信誉造成了无可挽回的负面影响。2004年,Xilinx 公司的部分 FPGA 芯片也出过类似的单粒子效应问题。这两次事件都是由于芯片封装材料中的放射性同位素引起的,和宇宙射线没啥关系。如下图所示,出问题的 Xilinx FPGA 芯片采用了倒封装工艺,Flip-Chip焊球距离晶片上的晶体管有源区只有几个微米的距离。焊锡(铅锡合金)中的微量放射性同位素会发生alpha衰变。例如,同位素钋210 (铅210的衰变产物)会发射 5.3 MeV 的 alpha 粒子,并衰变成铅206。这个alpha粒子会在电路中产生单粒子效应,引起软错误。

来源:Xilinx White Paper 208 (2004)来源:Xilinx White Paper 208 (2004)

3. 如果 Cisco 在调查后把错误原因归结为放射性同位素引起的单粒子效应,那么他们应当可以找到引发问题的芯片;然后该芯片的生产商应该可以找到发射过量alpha粒子的材料供应商——这才算找到根本原因了。如果有谁下载到 Cisco 的报告全文的话,可以看一下(我也有兴趣看看)。

4. 当然,先进CMOS工艺的器件,其软错误也有会有新的物理机制。例如,宇宙射线中的 mu 和 tau 粒子,穿透大气的能力(相比中子)比较强,并且可能在 28nm 等先进工艺生产的芯片中引起单粒子翻转。这个机制算是近年的一个研究热点吧。如果 Cisco 在调查后发现这次软错误事件是某种新机制造成的,那他们应该发论文仔细报道实验和分析的细节。对此我就更有兴趣了。

5. Cisco 在单粒子效应/软错误领域的投入是很大的。花了很多钱,做了很多实验,发了很多不错的论文。他们说这次的软错误问题是单粒子效应造成的,在没看到报告全文之前,我暂且是相信他们的。但这次暴露出来的软错误似乎太频繁了,似乎超过了通常经验中的软错误率。这让人怀疑Cisco是不是在设计中有所疏漏。当然,这只是猜测,有待分析。

6. 题主提到的beta射线和gamma射线,在一般的地面应用中可以忽略不计,和这次 Cisco 事件没什么关系。在空间应用中,通常比较关注 beta/gamma 射线对总剂量效应的贡献,一般不考虑它们对软错误的直接贡献。其他辐射环境下的 beta/gamma 射线,有其他效应。这些课题比较小众,就不展开讲了。

【MiloYip的回答(39票)】:

不是所有错误都叫bug。

【yxhuang的回答(9票)】:

只是对于航天有影响,说宇宙射线其实绝大多数是太阳射线。

高度越高越明显。并且好像巴西附近海域因为辐射产生的soft error比其他地方多一个数量级(国际空间站的数据)。而且地球磁场对射线的防护有时会让情况变得更复杂,比如在太空中的射线基本大家以及研究透了,而地面情况,尤其是火星表面(最近火星太热门)情况还有不少研究盲点。

对于辐射,电子束基本可以靠薄屏蔽解决绝大多数。而质子中子屏蔽效果不大,需要很厚屏蔽,这样会加大发射重量,况且在比如太阳能电板,摄像头等场合不允许屏蔽,所以需要点路自己负责。

工艺级别防护:用.18um的老工艺;用高电压;用SOI。电路级别防护:DFF重复采样;提高FF 以及memory自增益;对于SET大家好像没什么办法,只是期望它别打到FF的采样点上。系统上:基本就是各种冗余了,比如ECC,DMR,TMR。然后如果上天就是无休止的测试了。

总的来说,对于logic,大家没有太好办法,只有重复做比较;对于memory,有ECC这个大杀器,所以解决得很好。但是一般芯片上9.5成是各种memory,所以这个做好问题就会减轻很多了。

对于地面,基本很少看到有人关注这,我能感觉到的是数据中心,因为虽然单比特概率小,但盖不住数据多。记得典型大数据中心错误数是一天一次?解决办法主要也是ECC。

关于Cern这种地方也在关心这,但我觉得离大家生活太远了。总结关心这个的代表机构是NASA,ESA,Boeing,AirBus,Intel,Oracle。至于你?出现bug还是老实调试吧,别怪太阳射线了。

【迪迦奥特曼的回答(12票)】:

对这个一点儿不了解,但是有些兴趣,太空中具体的错误率数据不知道,在平常环境里几乎不可能碰见这种问题,前阵子听的一个电路可靠性分析报告给的总错误率是十的负几十次方 per bit per cycle(包括射线等等种种因素的总错误率),总之在一台电脑的整个生命周期里面都很难见到一次。

但在外太空就是另一回事了,上去的芯片得做防辐射加固。前阵子听了一个为日本宇航局做防辐射的电路层加固的科学家给的报告,就记得这么两个数字;不做加固,在辐射中工作不到一秒就挂了,做了加固,打开盖子施加辐射能撑超过六十秒。当时的PPT里面标注了辐射强度,但是因为我实在不懂这个方向,不知道他们的地面模拟试验的强度是比太空辐射更强还是更弱。

【倪佳驹的回答(0票)】:

以前Intel提过ECC内存,碰到1bit,2bit so ft error的概率。我找找哈。

【JinDwight的回答(25票)】:

老师是做卫星设计的,上课的时候稍微提到一些……

具体数字我也不清楚

伽玛射线和X射线属于电磁波电离辐射,不会在短时间内破坏芯片,但是对寿命的影响很大。长时间的冲击会导致芯片上晶体管闸极漏电,初期会导致功耗上升。长期会导致晶体管失效,结果就是门电路失效以至于整个芯片失效

Beta射线是电子流,打在芯片上可以直接在电路中产生电流,这个影响太明显了没必要说太多了吧= =

常见问题之一,单粒子反转。楼上的都提到过了,就是指存储元件中的0和1反转。单粒子反转对程序文件是致命的,错一位就很大概率运行失败。已经编译的Binary文件中的二进制串对应的是机器码和参数。参数反转会导致运行失常,因为输出结果大概率会便宜很多【二进制高位一位翻转顶得上低位所有加一起反转的影响,跟着就是后续程序全趴下了。如果是机器码翻转问题更严重,芯片会执行错误指令,或者干脆因为指令不存在罢工。

所以在设计的时候要考虑这种情况,比如状态机编码,4状态地面上可以用00 01 10 11,两位。太空中一般用的就是4位,0001,0010,0100,1000。这样就要同时反转两位才能导致设备进入错误状态。

不过,失效一般不是整个芯片一起失效的,是一点一点来的。航天器上的芯片有一部分是用的FPGA芯片,如果芯片一部分失效可以修改配置文件绕开损坏的部分。ROM和RAM同理,通过给处理器重新编程可以避开损坏的单元。当然了,前提是系统还能响应指令……

【李赧郎的回答(1票)】:

也就太空中有这个考虑。摘抄天宫一号的新闻

太空中,计算机最怕什么?专家说宇宙射线是计算机运行最大的危害。

地球上的计算机,因为有地球大气层的保护,可以挡住大部分来自太阳的高能粒子射电流,而在太空,天宫一号控制计算机将遭到质子、中子、重离子、电子的轰炸。

“总剂量效应”和“单粒子效应”是两种典型的太空射线对空间计算机造成的损害,也是星载计算机同其它地面计算机的最大不同。

专家所说“闩锁效应”是指空间重粒子作用到计算机芯片造成短路,进而引发“可控硅”效应,严重的会造成计算机电路“烧毁”。若发生“闩锁效应”,地面控制中心的工程技术人员即可察觉,相比之下,“单粒子翻转效应”使计算机存储单元的内容发生“位翻转”,造成物理损坏,只是悄无声息地改变存储内容,造成不易发现的破坏。

从天宫一号控制计算机地面遥测数据分析,天宫一号控制计算机今年已发生6次存储器单粒子翻转事件,其中有一次就发生在第二次交会对接前几小时。天宫一号控制计算机系统能有有效抵御单粒子翻转的危害,在轨稳定工作、表现优异。

刘波讲述的空间计算机测试,完全颠覆记者想象。

温度要承受摄氏零下35度到70度的巨大变化,抗辐射、抗静电、抗震动,考核试验综合应力时,一面震动、一面温度急剧变化、同时多个条件加载,考验产品的极限性能。

神舟九号与天宫一号对接就像两架飞机进行空中加油一样困难,一样危险,其中自动交会对接是对神舟九号和天宫一号控制计算机的最大考验,我们不能想象交会对接过程及控制权交接瞬间对两航天器控制计算机可靠性的甚高要求。

【马宏菩的回答(5票)】:

敝厂前段时间有个外派瑞士出差的活,就是带几台交换机去给粒子加速器折♂磨。

大概是大佬们觉得我们kernel组写的人为模拟内存错误的内核模块来测试ECC还不够底层、不够劲爆,想试试看真家伙……

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